平板数字成像的稳定性是衡量其性能的关键指标，主要受硬件设计、环境适应性、图像处理算法及系统校准维护等因素影响。下面就为您介绍一下平板数字成像稳定性的核心参数。
空间分辨率：
由像素尺寸和排列决定，像素间距越小，空间分辨率越高。例如，主流平板探测器像素尺寸为143μm或200μm，小型CMOS探测器可小至39~48μm，平板数字成像的高分辨率能更清晰地呈现细微结构。
动态范围：
指探测器可识别的灰度等级，通常由A/D转换器的Bit数决定（如14Bit/16Bit）。平板数字成像的动态范围越大，在工件厚薄差异大的情况下仍能保持良好对比度。
响应时间：
从接收射线到输出稳定信号所需时间，影响独立采样速率及数据质量。平板数字成像较短的响应时间可减少运动模糊，适用于心脏、肺部等高速运动组织的成像。
稳定性与线性度：
平板数字成像的反映探测器会随时间变化处理信号的一致性，直接影响测量精度。例如，非晶硅探测器在温度变化10℃时需重新标定，而CMOS探测器在0.55℃至43.3℃范围内无需标定，稳定性更优。